Oulun yliopiston Optoelektroniikan ja mittaustekniikan yksikön (OPEM) tutkijat ovat keksineet uuden tulostusmenetelmän äärimmäisen herkkien fotoilmaisinten valmistamiseen. He pystyvät valmistamaan mustetulostuksella tarkkoja infrapunas-antureita aiempaa laadukkaammin ja edullisemmin. Nyt tutkijat ovat saaneet näkyvyyttä tunnetussa nanoalan  tiedejulkaisussa.